實驗原理:

1. CCD影像感測器

  CCD(Charge-Coupled Device)—電荷藕合元件,是一種矽基固態影像感測元件。該元件是利用半導體的技術累積成二維面形的陣列,因其乃一為具高密度像素(pixel),具有高解析度及高感度之特性的固態影像感測器的諸多優良特性,使得它倍受矚目,並成為影像定量取得系統應用上必備元件。依感光頻譜區分,則有可見光,紅外光,X射線 …等區別。一般我們常用的多為可見光CCD影像感測元件主要優點有:

(1) 高解析度(High Resolution)

像點的大小為μm級,可偵測及識別精細物體,提高CCD攝影機影像品質。從早期一寸、1/2寸、2/3寸、到目前1/4寸,像素數目從原來25萬點增加到現在的30~40萬點。

(2) 低雜訊(Low Noise),高敏感度

  CCD具有很低的讀出雜訊和暗流雜訊(dark current noise),因此提高了訊號雜信比(signal to noise ratio SNR)。又具高敏感度(sensitivity),很低光度的被照體也能偵測到,其訊號不會被掩蓋,使CCD攝影機的應用可從白天擴充到夜晚,較不受天候拘束。

(3)動態範圍廣(High Dynamic Range)

  可同時偵測及分辦強光和弱光,提高系統的環境使用範圍。不因環境亮度差異大而造成信號反差現象。

(4) 良好的線性特性曲線(Linearity)

  入射光源強度和輸出訊號大小成良好的正比關係,輸出信號的大小變化能依原來物體亮度大小變化,使物體資訊不致損失,降低信號補償處理成本。

(5) 高光子轉換效率(High Quantum Efficiency)

  很微弱的入射光照射在感測器上,都能被記錄下來。如果配合影像增強管及投光器,即使在非常黑暗的夜晚位在很遠地方的景物仍然還可以偵測得到。

(6) 大面積偵測(Large Field of View)

  利用半導體技術可製造大面積的CCD晶片,含有百萬像素,長寬約為兩吋,可作為一面積曝光,其應用為取代傳統底片,作為電子照相機之取像元件。

(7) 光譜響應廣(Broad Spectral Response)

  能偵測很寬波長範圍的光,增加系統使用彈性,擴大系統應用領域。

(8) 低影像失真(Low Image Distortion)

  使用CCD感測器,其影像處理不會像使用影像收集管(image pickup tube)時,有失真的情形,使原物體資訊忠實反應。

(9) 體積小、重量輕

  CCD攝相機體積小且重量輕,可容易的裝置在人造衛星及各式導航系統上。

(10) 低秏電力,不受強電磁場影響。

(11) 電荷傳輸效率

  該效率係數影響信號雜信比、解像率,故電荷傳輸效率不佳,影像將變較模糊。

(12) 大量生產,品質穩定,堅固,不易老化,使用方便及保養容易。

2. 降低擷取影像之雜訊

  將影像的信號雜訊比提高,可使信號對雜訊產生較高的免疫力。通常所使用的方法為多次取像後求其平均值,將可提高所取影像的信號雜訊比。其理論簡述如下:

       Gi(x,y)=S(x,y)+Ni(x,y)

  其中Gi(x,y)代表第i次取像在(x,y)點素上之灰度值,S(x,y)代表影像信號值,Ni(x,y)代表隨機雜訊。

         

ε{Ni (x,y)}=0

ε{ }表示期望運算子(expectation operation)

ε{Ni (x,y)} 表示第i次取像之暫體(the ith ensemble)雜訊平均值

  Noise 之有效值

影像之SNR信號雜訊比(signal noise ratio)

         

如果取n次影像來平均

   i.e.

   其中G’(x,y)為n次取像之平均值。

     

  將影像取n次後的平均值將可提高信號雜訊比至倍。所以只多取幾次影像再加以平均便可以得到雜訊較小的影像。

 

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