圖 4 麥克詹達干涉儀
麥克詹達(Mach-Zender)干涉儀其光學佈置如圖4所示。Mach-Zender干涉儀比起Michelson干涉儀有如下兩大優點:
1.兩道光的路徑可以完全的分離，使受測物在安排時更有彈性。
2.透明受測物較無多道反射光的干擾(圖5），而麥克森干涉儀的光路由於來回都是同一條路，因此雜訊較大。
圖5利用Mach-Zender干涉儀進行透明物之測量
我們可以利用Mach-Zender干涉儀來量測透明待測物受力的情形，當待測物受力時，其折射率及厚度產生改變，使Mach-Zender干涉儀其中一道光相位跟著發生變化。根據條紋的變化量，我們可以量測到待測物產生的應力變化。和麥克森干涉儀一樣，我們可以調整微動螺絲直至兩道光場的光點重合，而形成干涉條紋。我們在其中一道光加入燈焰時，將觀察到火焰熱度所造成空氣熱流場的改變(圖6）。當我們在其中一道光加入一道噴氣氣流時，我們也可觀察到這道氣流對流場所產生的擾動。從上面的兩個例子可以看出， Mach-Zender 干涉儀很適合熱流場的檢測工作，由於整個架設非常簡單有彈性，又可達非接觸式量測的目的，因此一些惡劣環境的量測工作皆利用Mach-Zender干涉儀來量測。例如利用Mach-Zender干涉儀量測電漿密度及內燃機汽缸燃燒氣體擾動情形，皆是常見的例子。
圖6利用Mach-Zender干涉儀進行熱流場的檢測工作
