全像干涉量測

A．雷射光的測試，並不破壞待測物，這是因為光是一種非接觸性的探測。

B．利用全像干涉術測試，一次可以完成一個面之機械變形乃至一個三維的氣體流場分佈測試，這是strain gauge 或 LDV (雷射都普勒測速）等其他方法（只能作定點的測量）所不能勝任的地方。

C．只需微秒之極短時間即可完成量測工作，如不考慮沖洗時間，它所需測量時間極短， 一般攝取一幅全像片的時間為數 ms - mu s 之間。

E．靈敏度高，可很精確的得到量測結果。

　　我們可以把每次曝光所得到的全像片當成一種光柵，只不過光柵中記錄是一種較為雜亂（random） 的條紋，當兩個以上的光柵疊加在一起，即產生了疊紋，也就能夠將微小的變化量放大成大信號。

　　有人也將全像片的記錄過程視為參考光對照物光的一種編碼行為，而重建時原始參考光的入射，則是解碼的作用。總而言之，全像干涉量測技術就如同一般的許多量測行為一般，將兩個並不完全相同但非常近似的訊息疊加在一起，因而使得極細微的變化量成為很明顯的信號。

　　正由於全像術的靈敏特性，因此極微小的量也可以察覺，一些有趣的應用，例子如計算陶瓷材料的波松比，尋找古銅鏡正面打光出現背面龍鳳條紋的原因．．．等等，皆顯露出全像技術的卓越靈敏度。但一般全像術在拍攝之過程中要求十分嚴格，比如防震與遮光的問題，常使它無法走出實驗室，因此很難施行于設備體積龐大，環境複雜的工廠中。然而全像照相機克服了此一缺點，雷射脈衝之時間通常只有幾NS，拍攝時不怕干擾，也不需將待測物搬上全像桌。

　　全像照相機結合了全像術和照相機的特性。一般全像照相機之本體包括有兩個放大器的紅寶石雷射，偵查脈衝本身輸出能量的感測器，發出重建光的氦氖雷射，以及導光的光學系統。如果能將脈衝雷射之頻率調整到與待測之振動固體之兩振動尖峰值，則干涉條紋將隨位移變大而變密。

　　全像術一般必須使用導光設施形成參考光及照物光，為了讓這兩種光在底片上干涉時有良好之效果，其光場強度分佈便須作多方面的考慮，而在全像照相機中，其導光系統安排來不用說將更費苦心了（例如參考光約 5 公尺之補償路徑安排來便非易事）。

　　在理想中，我們可以開著巡迴服務車，使用全像照相機為工廠中各種機器作診斷，諸如殘留應力分析，渦輪葉片震動分析，工具機精密加工之震顫問題，機械臂變形之探討．．．等等疑難雜症，莫不可以當場拍攝沖洗後，馬上就有答案出來，而且提供的是全場分析的結果，如把它和一般電氣式的量測方法相比較，一般電氣式儀器只能在機器設備上選取數點作檢測，所得到的說服力自然遠不如全像照相機了。

　　全像照相機照理應是工業檢測之一項利器，但看來總稍嫌笨重了些。例如APPOLO LASERS INC.所研製的全像照相機，雖然其本體之體積並不算很龐大（1m times 0.7m times 0.3m），但由于它仍然免不了要帶著高電壓電源供應器（ 1.5m times 0.6m times 0.85m）及其它一些輔助設備等累贅，因此總重量往往高達 2000lb。又，吾人如若將全像照相機架上三角架，安上直徑150mm之滾輪，像是CEGB西南科學中心所研製的全像照相機（本體之體積1000mm´ 500mm´ 500mm）那樣，則運用時將更便利了。

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