經濟部九十二年度科技研究發展專案計畫

 

計 畫 名 稱

金屬二次加工自動化系統技術第二期四年計畫

計畫編號

92-EC-17-A-04-R7-0180

執 行 單 位

金屬工業研究發展中心

報 告 名 稱

表面處理檢測判定理論之研究

報告編號

MIRDC-180-V303(92)

相關子項計畫

光電零組件表面處理自動化系統技術

主持人

林宸生

 

關  鍵  詞

光學系統(optical system)

影像處理判定法則(image processing algorithms)

光學自動檢測(automatic optical inspection, AOI)

內 容 摘 要 ：

 

本計畫其目的是進行表面處理檢測判定理論之研究，內容包括：

 

Ø          光學系統的建立

Ø          十字標線定位及演算法

Ø          LCD缺陷檢測影像處理判定法則的建立

Ø          缺陷檢測Pattern資料庫之建立

Ø          提供目前國際間光學自動檢測的技術槪況及其未來發展方向之詳細資訊

 

  本期的重點，在於協助金屬工業研究發展中心在光電零組件表面處理自動化系統方面，建立影像處理基本功能的部分，共包括下列幾項：

 

n          影像處理介紹

n          影像處理周邊

n          程式庫應用

n          十字定位法案例說明（含algorithm說明）

n          影像資料庫建立

n          案例實作（具有樣板比對之案例和algorithm說明）