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應用於光電元件之視覺化光場檢測系統之開發
執行期間：89/ 8/ 1 ~ 92 7 / 31
NSC 89-2212-E-035-023-
第一年經費：467,000
NSC 90-2212-E-035-009
第二年經費：613,400
NSC 91-2212-E-035-006
第三年經費：744,200
中文摘要
本研究計畫著重在應用於光電元件之視覺化光場檢測系統之開發，強調產學合作、創新與實務並重，計畫中將推導設計許多視覺化光場檢測功能模組，並將其應用在液晶顯示器（LCD）及其導光板、雷射二極體(LD)封裝之光場檢測上。在LCD與雷射二極體這兩項應用主軸裡，將可驗證本計畫之成果，茲說明如下：
第一應用場合為LCD及其導光板之視覺檢測裝置，以檢測LCD及導光板光場均勻度，利用設計檢測光場之硬體裝置，導光板光場均勻性檢測副程式裝置，以視窗化顯示量測項目及結果，以進行導光板光場檢測及設計之修正工作，提高檢測速度，並降低線上檢測之誤差(誤差在1%以內)。
第二應用場合為雷射二極體(LD)封裝之視覺檢測裝置，利用影像處理方法檢查雷射二極體(LD)品質，一良好雷射二極體在尚未組合聚焦透鏡時，所發出的雷射光係一橢圓光束，投射在投影幕上形成一橢圓圖形。本系統將雷射二極體之橢圓圖形以攝影裝置擷取成數位影像後送入影像資料運算處理器進行數位影像處理分析，以篩選出瑕疵品，並對可供加工利用之優良品加以分級。進一步的問題則是有關雷射二極體加上特殊鏡片之各種光場，本系統亦能利用影像資料運算處理器，使用其中內含之外型分析及亮度分佈分析軟體加以分析並分級，以非平均式掃瞄程序增進處理速度，並有累積統計功能供整批雷射二極體之品質管制與後續追蹤分析。並可列印各項資料。搭配生產線，成為一自動化工業設備。
本研究計畫為期三年，在第一年中，將開發出視覺化光場檢測功能模組。在應用方面，一為完成LCD導光板之多段位光場均勻性檢測裝置，二為完成雷射二極體尚未組合聚焦透鏡之品質管制之檢測裝置。
第二年，將所開發出之視覺化光場檢測功能模組，致力於既有的視覺檢測裝置改良。在應用方面，一為完成LCD導光板光場檢測及設計之修正工作，二為完成雷射二極體加上特殊鏡片之各種光場之檢測裝置。
第三年，以提高檢測速度，並降低線上檢測之誤差為訴求。在應用方面，一為完成LCD整體光場檢測之視覺裝置，二為完成雷射二極體封裝之各種問題解決方案之視覺化專家系統。
本研究計畫工作目標如下：
一、完成三篇以上創新論文
二、真正使用於光電廠商之生產線
三、完成三項以上專利之申請