執行期間：
NSC 95-2212-E-035-083
經費：644000
本研究計畫’應用於TFT-LCD (薄膜電晶體液晶顯示器, thin-film transistor
liquid-crystal display)光蝕刻與組合製程之低對比、高複雜性檢測影像之自動光學系統之設計與應用’ 主要是針對TFL-LCD面版上的蝕刻電晶體與電路板，進行自動化線上檢測及相關量測之應用。在TFL-LCD光蝕刻與組合製程這兩項應用主軸裡，將可驗證本計畫之成果。
本研究計畫提出一個改良式影像樣版比對方法，希望能有效率地對辨識目標作一描述，使得能在圖像比對辨識的過程中，在不失精準度的前提下，大量縮短比對時間。並同時針對光源中心偏移、光源分佈不均之情形與多目標偵測，以梯度方向編碼轉換後，亦能穩定對其目標圖像作一追蹤辨識與定位。透過圖像識別比對技術，去追蹤待測面版上的目標薄膜電晶體影像，並與系統資料庫作一匹配，判斷該目標電晶體為何類別樣式，找出電晶體中心位置，同時，將控制訊息遞交伺服機構，對其檢測流程作一正規化處理，進行線寬線距等量測相關動作。
本研究計畫工作目標如下：
一、完成創新論文
二、完成專利之申請
也唯有在產學合作、理論創新與智慧財產方面，本計畫成果都能互相交融，而有所斬獲，如此亦才能驗證其成功。