TFT-LCD 與ACF組合製程之自動光學系統之設計與應用
The Designs and Applications of an
automatic optical inspection system for the TFT LCD and ACF assembly
manufacturing process
第一年經費：619000
第二年經費： 619000
第三年經費：630000
Keywords： Automatic optical
inspection system, assembly manufacturing process, thin-film transistor
liquid-crystal display, anisotropic conductive film, genetic algorithm
關鍵詞： 組合製程
自動光學檢測系統 薄膜電晶體液晶顯示器 異方性導電膜 基因演算法
本研究計畫『TFT-LCD 與ACF組合製程之自動光學系統之設計與應用』主要是針對薄膜電晶體液晶顯示器(thin-film transistor liquid-crystal display, TFL-LCD)面板與異方性導電膜(anisotropic
conductive film , ACF)電路板之組合製程，進行自動化線上檢測及相關量測之應用。在TFL-LCD與ACF組合製程這項應用主軸裡，將可驗證本計畫之成果。
本研究計畫為期三年，在第一年中，改良TFT-LCD異方性導電膜組合製程之自動光學系統，並提出新的校正補償機制來改善定位法之不足與精準度，針對面板與驅動積體電路（IC）、背光板、電路板組裝，導電粒子數量、ACF 粒子壓痕強度、壓著後偏差量、液晶顯示器單元（CELL）與軟性電路板(Flexible
Printed Circuit, FPC)搭接、FPC 導電粒子數量、FPC 之 ACF 粒子壓痕強度、FPC壓著後偏差量等量測主題進行量測。在進行圖像搜尋、解析及影像辨識過程中，由於影像的匹配處理具有運算資料龐大的特性，也因而比對時間耗費的縮短和能否精確找到目標影像，便是著手本研究的重點。
第二年，開發使用於TFT LCD螢幕半成品之點燈檢查系統之影像處理方法。藉由線掃描CCD(Line -Scan Charge Coupled Device)擷取影像，使用PC-BASED
系統對灰階值進行計算，希望快速且穩定檢查出不良點並計算出不良點位置。另外也針對導電粒子，進行圖形追蹤、定位、檢測及破裂變形狀況等相關製程量測工作，並開發一種電子產品生產線之改良樣板比對法自動化偵測系統，其兼具目標樣板具有任意形狀之特徵權重遮罩部、目標樣板可作忽略灰階值設定、目標樣板具有任意形狀之遮罩矩陣部，以及可自動調整目標樣板之亮度與對比度等功效。
第三年，針對TFT-LCD面板壓合製程中，異方性導電膜的導電粒子壓合情況， 利用改良型的樣板比對(Pattern Match)方法，進行自動化線上檢測及相關量測判定之應用，並開發一種自動化光學檢測系統之比對樣板自動產生方法，其兼具利用適應函數減少比對時間、以基因演算法迅速找出最佳目標樣板，及以序列方式節省記錄目標樣板所需之記憶體空間等功效。
本研究計畫工作目標如下：
一、完成六篇以上創新論文
二、完成二項以上專利之申請
三、完成一項以上業界廠商專利技術移轉(透過逢甲大學)
也唯有在產學合作、理論創新與智慧財產方面，本計畫成果都能互相交融，而有所斬獲，如此亦才能驗證其成功。