| 利用以陰影條紋技術及數位影像處理的技巧來測繪曲面之等高線 | . |
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| 疊紋( MOIRE )簡介 疊紋( MOIRE )為一個法國字，原意是在形容一個屏風疊加的效果，現在則常用來表示絲綢的圖案，在有些時候，許多人也許都注意到屏風和絲綢衣服所形成的疊紋圖案，這些圖案是因為兩組以上間隔相接近的細線互相疊加而形成的，而光源則可以是穿透式的，也可以是反射式的，這時我們可以看出疊紋的圖案出現了大的明帶和暗帶，明帶出現的原因便在於細線的間隔區同時的出現在一起的結果，而暗帶出現的原因則是因為細線的條紋區同時出現在一起，如圖1 。 圖1 疊紋圖案出現的原因 疊紋的原理和量度學中游標尺的原理很類似，它也經常用在應力的分析上，以決定力場下的 X、Y 方向的微小位移 (u,v) 和應變 (Ex,Ey) ，疊紋的技術一般應用在量測位移，而可避開量測的體積、試片、溫度、時間、速度上的一些問題困擾。
當光柵是由每英吋數百條或數千條細線或點所組成時，通常是肉眼無法看的清楚的，但它們的疊紋，就好像光彈的干涉圖案一般是很容易觀察得到的，我們可予以拍照、記錄和分析，的確，疊紋技術是最基本的應力實驗技術，它的方法很簡單，只要壓縮一個光柵的使其變形，再讓它與未變形的光柵作干涉，便可以得到位移和變形的資料了。這個方法不仰賴電阻值變化（例如電子應變規）和折射率變化
(如光彈)
，因此也就不用去考慮陶瓷電阻之潛變問題和光彈系統的不穩定性了。 |
.疊紋在力學上的應用
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