以下將設計三個實驗包括微粒計數、微
粒度量與分類、特定微粒辨認等，針對系統功能來做測試。底下
將對每一個實驗設計，敘述其步驟及流程。
歸納各個實驗與結果討論，可以發現下列重點及心得：
*利用統計方法自動擷取二值化之閥值，在自動分割物體本身與背景上，
提供了不錯的效果，而且系統可以在不同的環境因素下(如照明度強弱）
更具強健性。
*顯微鏡的放大倍數對微粒度量的精密度有很大的影響。 以本實驗為例，在倍數為180倍時，經刻度校準後，每個像點 所代表之實際長度為2.5mm。此時系統能度量的微粒大小應限 定在一個範圍之上，如此，在處理過程中的誤差才不致影響 測量結果過大。故本實驗系統量測微粒精密度約在50mm，如 欲量測更細微的微粒，首先，應先提昇顯微鏡的放大倍數。
*系統關於微粒自動檢出及計數的功能測試結果不錯 ，可以立即應用至生產線上，如液晶板夾層微粒計數或微晶 片顆粒計數上。
*在特定微粒的記憶及辨認上，利用快速識別神經網路來實現 是個有發展潛力的主題。可再深入積極研究，以應用在實際的 檢測上。
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