全像干涉量測

全像干涉量測時待測物前後曝光之差異引起重建影像上面產生條紋。

因第一次曝光所得之重建光為 U1=Ur+Uo1 +U o1 '

因第二次曝光所得之重建光為 U2=Ur+U o2 +U o2 '

（ U o1 ',U o2 ' 為共軛像光場）

所以影像重現時，重建光光場將與U(r)=U1+U2 成正比。

光場強度可以表示如下：

I µ U(r) · U(r)*

在此我們特別留意重建光物體影像之光場Uo1 +U o2 ，其光場強度為

I µ (Uo1 +U o2 ) · (U o1 +U o2 )*

設 U o1 =Ao exp( iKÆ o1)

設 U o2 =Ao exp( iK Æ o2 )

所以重建光物體影像之強度 Ｉ將與 cos[K(Æ o1 - Æ o2 )] 成正比。

由上面說明可以得知全像片上的條紋，是由前後兩次曝光時，照物光之相位改變所致，引起相位改變的原因，在力場量測上不外乎是因物體變形導致照物光有了光程差所引起的，而在熱流場量測上則常是因待測物折射率改變所引起。

如圖7-3，變形前之光程L1﹐變形後之光程L2﹐ 二次曝光的光程差ΔL=L1-L2﹐由於全像攝影量測的位移 PP' 極小，化簡後將相位變化ΔÆ 換算成光程差ΔL﹐即可算出變形位移量。

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