有許多量測的技術皆示建立於單狹縫繞射而來的,例如光譜儀、細線的外徑
量測設備以及光學應變規。

現在介紹光學應變規如下。

干涉式之光學應變規有如下之優點:

     1.提供了一個量測應變的方法,不需使用昂貴的應變規,且架設容易,黏
       結的難度減低。

     2.消除了對待測材料增強效應的困擾。

     3.為無接觸式的量測。

     4.如果刀片選用與待測物相同的材質的話,那麼將得到自動溫度補償的
       結果。

     5.用於高溫環境的檢測工作。

自1965年來,由於雷射的同調性引發了許多的光學應變規的發展,Tuckerman光
學應變規即是其中簡易優良的一種光學應變規。

通常b為一很小的距離,也許只有數微米而已,當試片施時,由於應變的作用,使
刀片距離增大,因此,當我們將雷射光入射於刀片間的狹縫時,將會看到隨著施
力的增加,光點由疏而密,由前面公式,我們知道狹縫越大,繞射光點的距離越大
。參考圖如下



設b為所黏貼之兩片刀片之縫隙寬,則
 

    
其中n為繞射圖譜從中間算起的暗點數, y為該暗點與中間點之距離,當試片受
力時,變形量導致縫隙寬度產生改變,即 △b = εl

假設變形前暗點與中點之距離為y0, 當試片受力變形時, 暗點與中點之距離
為y1,因此我們可以得到:
         
各種變形量下繞射圖譜如圖

 

0 STRAIN

 

1000 MICROSTRAIN

  

2000 MICROSTRAIN

 

3000 MICROSTRAIN


在變形前b與y0之關係如下:
      
將(1),(2)式相減,便可得到施力後之平均應變量ε如下:

    

    在實際上,考慮到y0與y1值之量測時所產生之誤差,因此技巧上取高階的
暗點來量測,在暗房中或是b很小的情況下,繞射光點的解析度很高,一般取n*=10
是沒問題的。