實驗目的：

    1.熟悉雷射繞射圖案量測的應用，並利用光柵測定光波波長。
    2.由雷射繞射圖案量測光點分析帶測物體表面加工紋路。

使用儀器：

    1.氦氖雷射，其輸出頻譜為632nm，總輸出功率為3mW以上。
    2.光柵一組。
    3.電腦及印表機。
    4.微細待測物體。

實驗操作程序：

    1.使用雷射光照射待測微細物，使其形成繞射圖譜。
    2.使用CCD將繞射影像輸出至螢幕。
    3.用滑鼠在你欲求取長度之兩繞射光點點一下。
    4.程式自動計算光點長度。

※本程式以Builder C++纂寫。







程式執行步驟說明:


(1)將程式解壓縮後,執行test.exe,則出現如下畫面:





(2)再至儲存繞射光點圖檔的子目錄下.





      (3) "點一下"你欲計算之圖檔.
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(4)再選取你所要的兩點,各點一下.則出現如圖:





(5)按"開使計算",即求得兩點間距.







※※※下載程式※※※


程式壓縮zip(1)   程式壓縮zip(2)

※※※下載範例圖檔※※※

壓縮圖檔zip