1.量測用之光源與光檢測器特性分析

1-1  光源

1-2  非同調光源之特性

1-3  同調光源-雷射

1-4  光檢測器

 

2.傳統光學量測設備

2-1  傳統光學量測蓋說

2-2  幾何光學的相關理論

2-3  幾何光學於量測上之應用簡介

 

3.光學編碼器

3-1  光電編碼器簡介

3-2  光電圓編碼器

3-3  光學尺

3-4  數位式量測簡介

4.斑點檢測系統

4-1  斑點之意義

4-2  以斑點方法作表面粗糙度量測

4-3  以斑點方法檢測物體微小位移

4-4  電子斑點干涉術(ESPI)

 

5.雷射都卜勒

5-1  雷射都卜勒之發展

5-2  雷射干涉儀(工具機校正儀)

5-3  雷射都卜勒工具機及三次元之校正工作

5-4  雷射都卜勒流體速度量測

 

6.光纖量測設備

6-1  光纖量測簡介

6-2  光纖量測分析

6-3  光纖量測於量測上之應用

 

7.偏光彈性儀

7-1  偏光彈性儀量測簡介

7-2  光彈量測理論

7-3  光彈檢測實務

7-4  光彈於機械工業量測上之應用